নানজিং ওয়াসিন ফুজিকুরা উচ্চ তাপমাত্রা প্রতিরোধী অপটিক্যাল ফাইবারগুলিতে ভালো অপটিক্যাল বৈশিষ্ট্য, চমৎকার গতিশীল ক্লান্তি বৈশিষ্ট্য এবং উচ্চ তাপমাত্রার পরিস্থিতিতে উচ্চ প্রসার্য শক্তি রয়েছে। ওয়াসিন ফুজিকুরাতে 200 ডিগ্রি এবং 350 ডিগ্রিতে দুটি সিরিজের উচ্চ তাপমাত্রা প্রতিরোধী ফাইবার রয়েছে।
► উচ্চ তাপমাত্রার ভালো কর্মক্ষমতা
► তীব্র নিম্ন-তাপমাত্রা এবং উচ্চ তাপমাত্রার ক্রমাগত চক্রের অধীনে স্থিতিশীলতা কর্মক্ষমতা (-৫৫ ডিগ্রি সেলসিয়াস থেকে ৩০০ ডিগ্রি সেলসিয়াস পর্যন্ত)
► কম ক্ষতি, প্রশস্ত ব্যান্ড (নিকট অতিবেগুনী থেকে নিকট ইনফ্রারেড ব্যান্ড, 400nm থেকে 1600nm)
► অপটিক্যাল ক্ষতির ক্ষমতা ভালো প্রতিরোধের
► ১০০KPSI শক্তি স্তর
► প্রক্রিয়াটি নমনীয় এবং বিভিন্ন জ্যামিতি, ফাইবার প্রোফাইল কাঠামো, NA, ইত্যাদি উপলব্ধি করার জন্য কাস্টমাইজ করা যেতে পারে।
আবরণ হিসেবে পলিঅ্যাক্রিলিক রজন | |||
প্যারামিটার | এইচটিএমএফ | এইচটিএইচএফ | এইচটিএসএফ |
ক্ল্যাডিং ব্যাস (উম) | ৫০±২.৫ | ৬২.৫±২.৫ | - |
ক্ল্যাডিং ব্যাস (উম) | ১২৫±১.০ | ১২৫±১.০ | ১২৫±১.০ |
ক্ল্যাডিং অ-বৃত্তাকারতা (%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
কোর / ক্ল্যাডিং ঘনত্ব (উম) | ≤২ | ≤২ | ≤০.৮ |
আবরণ ব্যাস (উম) | ২৪৫±১০ | ২৪৫±১০ | ২৪৫±১০ |
আবরণ / ক্ল্যাডিং ঘনত্ব (um) | ≤১২ | ≤১২ | ≤১২ |
সংখ্যাসূচক অ্যাপারচার (NA) | ০.২০০±০.০১৫ | ০.২৭৫±০.০১৫ | - |
মোড ফিল্ড ব্যাস (উম) @ ১৩১০nm | - | - | ৯.২±০.৪ |
মোড ফিল্ড ব্যাস (উম) @১৫৫০nm | - | - | ১০.৪±০.৮ |
ব্যান্ডউইথ (MHz.km) @৮৫০nm | ≥৩০০ | ≥১৬০ | - |
ব্যান্ডউইথ (MHz.km) @ ১৩০০nm | ≥৩০০ | ≥৩০০ | - |
প্রুফ টিট লেভেল (kpsi) | ১০০ | ১০০ | ১০০ |
অপারেটিং তাপমাত্রা পরিসীমা (°C) | -৫৫ থেকে +২০০ | -৫৫ থেকে +২০০ | -৫৫ থেকে +২০০ |
স্বল্পমেয়াদী (°C) (দুই দিনের মধ্যে) | ২০০ | ২০০ | ২০০ |
দীর্ঘমেয়াদী (°C) | ১৫০ | ১৫০ | ১৫০ |
অ্যাটেন্যুয়েশন (ডেসিবেল/কিমি) @১৫৫০nm | - | - | ≤০.২৫ |
অ্যাটেন্যুয়েশন (ডেসিবেল/কিমি) | ≤0.7 @১৩০০nm | ≤0.8 @১৩০০nm | ≤0.35@1310nm |
অ্যাটেন্যুয়েশন (dB/কিমি) @850nm | ≤২.৮ | ≤৩.০ | - |
কাটঅফ তরঙ্গদৈর্ঘ্য | - | - | ≤ ১২৯০nm |
আবরণ হিসেবে পলিমাইড | |||
প্যারামিটার | এইচটিএমএফ | এইচটিএইচএফ | এইচটিএসএফ |
ক্ল্যাডিং ব্যাস (উম) | ৫০±২.৫ | ৬২.৫±২.৫ | - |
ক্ল্যাডিং ব্যাস (উম) | ১২৫±১.০ | ১২৫±১.০ | ১২৫±১.০ |
ক্ল্যাডিং অ-বৃত্তাকারতা (%) | ≤1 | ≤1 | ≤1 |
কোর / ক্ল্যাডিং ঘনত্ব (উম) | ≤২.০ | ≤২.০ | ≤০.৮ |
লেপ ব্যাস (উম) | ১৫৫±১৫ | ১৫৫±১৫ | ১৫৫±১৫ |
আবরণ / ক্ল্যাডিং ঘনত্ব (um) | 10 | 10 | 10 |
সংখ্যাসূচক অ্যাপারচার (NA) | ০.২০০±০.০১৫ | ০.২৭৫±০.০১৫ | - |
মোড ফিল্ড ব্যাস (উম) @ ১৩১০nm | - | - | ৯.২±০.৪ |
মোড ফিল্ড ব্যাস (উম) @১৫৫০nm | - | - | ১০.৪±০.৮ |
ব্যান্ডউইথ (MHz.km) @৮৫০nm | ≥৩০০ | ≥১৬০ | - |
ব্যান্ডউইথ (MHz.km) @ ১৩০০nm | ≥৩০০ | ≥৩০০ | - |
প্রুফ টিট লেভেল (কেপিএসআই) | ১০০ | ১০০ | ১০০ |
অপারেটিং তাপমাত্রা পরিসীমা (°C) | -৫৫ থেকে +৩৫০ | -৫৫ থেকে +৩৫০ | -৫৫ থেকে +৩৫০ |
স্বল্পমেয়াদী (°C) (দুই দিনের মধ্যে) | ৩৫০ | ৩৫০ | ৩৫০ |
দীর্ঘমেয়াদী (°C) | ৩০০ | ৩০০ | ৩০০ |
অ্যাটেন্যুয়েশন (ডিবি/কিমি) @১৫৫০nm | - | - | ০.২৭ |
অ্যাটেন্যুয়েশন (ডিবি/কিমি) | ≤১.২ @১৩০০nm | ≤১.৪@১৩০০nm | ≤0.45@1310nm |
অ্যাটেন্যুয়েশন (ডিবি/কিমি) @৮৫০nm | ≤৩.২ | ≤৩.৭ | - |
কাটঅফ তরঙ্গদৈর্ঘ্য | - | - | ≤১২৯০ এনএম |
অ্যাটেন্যুয়েশন পরীক্ষা, ৩৫ সেমি বাই ১ ~ ২ গ্রাম টেনশনের চেয়ে বড় ব্যাসের ডিস্কে ফাইবার ঘুরানো